Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
1

A resistometric method to characterize electromigration at the wafer level

Рік:
1990
Мова:
english
Файл:
PDF, 556 KB
english, 1990
3

Contact resistivity of silicon/silicide structures formed by thin film reactions

Рік:
1985
Мова:
english
Файл:
PDF, 432 KB
english, 1985
4

A Viterbi decoder architecture for a standard-agile and reprogrammable transceiver

Рік:
2008
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.24 MB
english, 2008
5

Evaluation of the thermal resistance of AlCu electromigration test structures

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 434 KB
english, 2000
10

A comparison between normally and highly accelerated electromigration tests

Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 495 KB
english, 1998
11

A stochastic approach to failure analysis in electromigration phenomena

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 352 KB
english, 1999
12

Early electromigration effects and early resistance changes

Рік:
1999
Мова:
english
Файл:
PDF, 226 KB
english, 1999
15

Ohmic contact electromigration

Рік:
1992
Мова:
english
Файл:
PDF, 555 KB
english, 1992
16

Electromigration in thin-films for microelectronics

Рік:
1993
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.74 MB
english, 1993
17

Resistance decay after electromigration as the effect of mechanical stress relaxation

Рік:
1993
Мова:
english
Файл:
PDF, 258 KB
english, 1993
19

Electromigration and Matthiessen's rule: Experiments on non-passivated Al-1%Si films

Рік:
1990
Мова:
english
Файл:
PDF, 299 KB
english, 1990
21

Thermal characterization of a microheater for micromachined gas sensors

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 167 KB
english, 2004
26

A simple interface circuit for micromachined gas sensors

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 262 KB
english, 2003
32

Degradation mechanisms induced by high current density in Al-gate GaAs MESFET's

Рік:
1987
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.01 MB
english, 1987